用OTDR測試儀測試SPN50G端口，檢測光路質(zhì)量時(shí)，必須（)。

A.對端光模塊沒有光功率發(fā)出

B.光纖實(shí)際長度大于光模塊支持的長度

C.光纖損壞

D.光模塊老化

A、使用光測試儀

B、使用光衰減器

C、使用光功率器

光網(wǎng)絡(luò)設(shè)備調(diào)測時(shí)，一旦發(fā)生光功率過高就容易導(dǎo)致燒毀光模塊事故，以下操作符合規(guī)范要求的是()。

A.調(diào)測前，必須先掌握單板要求的接收光功率參數(shù)，嚴(yán)格按照調(diào)測指導(dǎo)書說明的受光功率要求進(jìn)行調(diào)測

B.輸入光信號在接入單板接收光口前，必須先測試光功率是否滿足調(diào)測要求，禁止光功率超過接收過載點(diǎn)時(shí)進(jìn)行不加光衰自環(huán)的操作，保證輸入光功率不超過器件允許的最大值

C.進(jìn)行過載點(diǎn)測試時(shí)，達(dá)到國標(biāo)即可，禁止超過國標(biāo)2個(gè)dB以上，否則可能燒毀光模塊

D.使用OTDR等能輸出大功率光信號的儀器對光路進(jìn)行測量時(shí)，要將通信設(shè)備與光路斷開

E.不能采用將光纖連接器插松的方法來代替光衰減器

A.光纖

B.光分路器

C.光纖連接器

D.PON光模塊

A.光纖斷裂

B. 光通路質(zhì)量惡化

C.ONT 硬件故障

D. 光模塊故障

A.主設(shè)備側(cè)光模塊損壞

B.RRU側(cè)光模塊損壞

C.主設(shè)備側(cè)光模塊型號不匹配

D.RRU側(cè)光模塊型號不匹配

A.主設(shè)備側(cè)光模塊損壞

B.RRU側(cè)光模塊損壞

C.主設(shè)備側(cè)光模塊型號不匹配

D.RRU側(cè)光模塊型號不匹配

A.距離太長

B.光路的跳數(shù)過多

C.PON口光模塊損壞

D.光纖衰耗太大

A.FSK調(diào)制解調(diào)器故障

B.下行功放故障

C.上、下行光鏈路異常

D.光收模塊故障